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丝扫器(单丝、双丝)、多丝探测器

用途:用于束流剖面测量

说明:带电离子、电子沉积到探测器内部,束流自身的电荷会作为信号输出,同时入射到材料表面也会打出二次电子,同样会产生信号输出,二者叠加产生的信号最终作为探测器的输出。束流的入射深度和束流的种类、能量相关,表面二次电子的产额也与束流的种类、能量相关。在束流方向放置很多细丝,每根丝输出的信号大小与轰击到丝上的束流强度成正比,因此可用于束流剖面的测量。

对于较高功率的束流,丝扫器是一种常用的剖面测量方法。快速移动丝的位置可以防止丝上沉积功率过高,防止丝被高温烧断。

对于单次沉积能量不高的脉冲束,比如同步加速器快引出的高能量束流,或者被调制过的低能强流脉冲束,也可使用多丝探测器来测量剖面。

二次电子产额计算   
钨丝发热模拟

                                    质子,能量9.3 GeV/u ,单脉冲粒子数1e12,脉冲宽度1us,重复频率1Hz

                                    钨丝,直径50um,丝位置束流宽度(σxσy=2020mm

 

功率极限测试

 

 

热电子发射信号估算

 

单丝、双丝探测器

用途:单丝探测器属于拦截式探针,一般安装在同步环入口处,并且水平、垂直方向各装一套,主要用于束流剖面测量,也可准确快速实现对束流的在束监测。双丝用于束线束流剖面测量,45度安装,可同时给出束流的水平和垂直分布。

说明:在使用时,通过电机驱动装置,将单丝/双丝快速推入束流管道中间,实现对束流的快速扫描,然后,配合高速数据采集系统对数据进行实时采集与处理,最终输出束流剖面信息。丝的运动速度需要根据束流沉积功率、输出信号大小调整,确保丝上的温升不能超出使用范围。

电子束束流剖面  

 

离子束束流剖面测量

 

 

单丝测量系统架构

 

 

 

丝扫器(双丝)探测器

 

 

 

 

 

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