薄膜二次电子MCP逐粒子径迹探测器
用途：用于重带电粒子的径迹测量，可以用于天体物理、低能核物理或原子物理实验。
说明：束流通过与束流方向呈45°夹角的双面镀铝的Mylar薄膜（Foil）时，产生的二次电子（SE）在薄膜与栅极(Grid)之间产生的静电场中被加速。这些SEs在微通道板（MCP）中进行增殖、放大，并由位置灵敏电路进行信号收集、电子学记录。
用途：用于重带电粒子的径迹测量，可以用于天体物理、低能核物理或原子物理实验。
说明：束流通过与束流方向呈45°夹角的双面镀铝的Mylar薄膜（Foil）时，产生的二次电子（SE）在薄膜与栅极(Grid)之间产生的静电场中被加速。这些SEs在微通道板（MCP）中进行增殖、放大，并由位置灵敏电路进行信号收集、电子学记录。
